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Yamaha Fine Technologies推出Micro Prober MP系列測定裝置

全新高周波特性測定裝置MP502/MP502-A
Yamaha Fine Technologies Co.,Ltd.已開發(fā)了Micro Prober MP系列測定裝置,能夠高速、高精度地連續(xù)檢測電路板的高周波特性。首批系列產(chǎn)品MP502和MP502-A于10月18日(周五)發(fā)布。

日本濱松2019年10月21日 /美通社/ -- Yamaha Fine Technologies Co.,Ltd.(總部:浜松南區(qū)青屋町283號;首席執(zhí)行官:仲田泰弘(Yasuhiro Nakada))已開發(fā)了Micro Prober MP系列測定裝置,能夠高速、高精度地連續(xù)檢測電路板的高周波特性。首批系列產(chǎn)品MP502和MP502-A于10月18日(周五)發(fā)布。

圖片:https://kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M102122/201910152096/_prw_PI1lg_i8o0t16s.jpg

近年來,由于5G通信服務的推出和推廣,電子電路板生產(chǎn)商更有意向使用適用于高周波信號的LCP和MPI等材料來生產(chǎn)電路板,這些基板需要具備更好的高周波特性。到目前為止,周波特性的檢測都是通過對試件的抽樣檢測來進行的。

相比之下,新的MP502和MP502-A裝置與商用矢量網(wǎng)絡分析儀結合使用,能夠對實際產(chǎn)品模式的高周波特性進行高速、高精度檢測,從而實現(xiàn)對以前有問題的實際產(chǎn)品的檢測,以及所有相關量產(chǎn)產(chǎn)品的測定。

總結

  • 支持在量產(chǎn)期間檢測電路板形式的高速傳輸電路板
  • +-20微米高精度定位實現(xiàn)高重復性檢測
  • 支持獨立的上下定位,通過在上下兩面布置檢測點,為多層基板提供支持
  • 可與測定儀器制造商提供的最新矢量網(wǎng)絡分析儀結合使用

產(chǎn)品信息:https://kyodonewsprwire.jp/img/201910152096-O2-RLMa2fc9

設備配置:https://kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M102122/201910152096/_prw_PI3lg_9W9The58.jpg

請在產(chǎn)品網(wǎng)站上查看詳細的產(chǎn)品規(guī)格。
https://www.yamahafinetech.co.jp/en/news/products/2019/00016/file/568/new_product_mp502_en.pdf

消息來源:Yamaha Fine Technologies Co., Ltd.
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