Picarro宣布用于半導體晶圓廠的氣體分子污染監(jiān)測系統(tǒng)

加利福尼亞州圣克拉拉市2020年3月25日 /美通社/ -- Picarro宣布推出經(jīng)我們完全優(yōu)化的AMC監(jiān)控系統(tǒng)——Picarro SAM（取樣Sample、分析Analyze和監(jiān)測Monitor）。該系統(tǒng)由Picarro在業(yè)界領先的基于CRDS的傳感器組成，該傳感器已集成到最新的采樣系統(tǒng)中。SAM單元可提供高通量采樣，而不會影響傳感器的性能。

Picarro AMC Monitoring System

新的Picarro SAM系統(tǒng)是從組件產(chǎn)品到系統(tǒng)解決方案的重大轉(zhuǎn)變。一站式的設計、制造和測試系統(tǒng)的好處包括：

• 針對Picarro硬件和軟件設計且完全集成的系統(tǒng)——無集成兼容性問題
• Picarro SAM系統(tǒng)進行過精心優(yōu)化——系統(tǒng)性能符合Picarro Semi系統(tǒng)規(guī)格

新發(fā)明的、正在申請專利的氣體輸送歧管促成了SAM的顯著性能優(yōu)勢，使其在很短的時間內(nèi)達到萬億分之幾（ppt）的檢測靈敏度，并能快速將SAM系統(tǒng)恢復到基線靈敏度水平。這使得SAM成為在線實時AMC監(jiān)視系統(tǒng)的理想選擇。該系統(tǒng)帶有易于使用的圖形用戶界面，可進行各種圖表和趨勢分析。

SAM可以配置為從8個或16個端口采樣，并且目前可用于檢測氨、氟化氫和鹽酸，這三個關鍵AMC會影響半導體晶圓的產(chǎn)量。展望未來，我們將根據(jù)Picarro的半導體產(chǎn)品路線圖為其它氣體提供SAM系統(tǒng)。

SAM系統(tǒng)路線圖還將支持復雜的AMC分析，以幫助客戶更準確地快速識別AMC事件的位置，從而允許采取更快的糾正措施，以提高與AMC相關的晶圓產(chǎn)量。

關于Picarro：

Picarro為實時AMC監(jiān)測提供行業(yè)領先的解決方案。與現(xiàn)有的AMC測量技術（例如離子遷移譜（IMS）和離子色譜法）相比，其光腔衰蕩光譜技術（CRDS）具有明顯的優(yōu)勢。 Picarro的SI2000系列分析儀可在數(shù)秒而不是數(shù)小時內(nèi)對快速潔凈室中的污染物進行響應。 Picarro分析儀具有萬億分之一（ppt）含量水平的實時連續(xù)分析功能，可為無塵室、FOUP和晶圓廠設備中的AMC監(jiān)控提供污染事件的預警。有關Picarro Inc.的其它信息，請訪問semi.picarro.com或我們的Twitter。

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