深圳2020年12月1日 /美通社/ -- 繼推出全系列容量的DDR4內(nèi)存和基于長鑫存儲DRAM資源的國產(chǎn)化內(nèi)存后，江波龍?jiān)趦?nèi)存測試技術(shù)上不斷探索，除了自主開發(fā)基于10nm ASIC的測試系統(tǒng)外，也在積極尋找專業(yè)測試機(jī)構(gòu)的認(rèn)證合作，力求在質(zhì)量上有新的突破。
江波龍DDR4內(nèi)存已通過KTI專項(xiàng)測試認(rèn)證
上個(gè)月，江波龍加入了魯大師組建的“中國智能硬件評測基準(zhǔn)聯(lián)盟（CIHEBA）”，意味著江波龍的測試技術(shù)得到了專業(yè)機(jī)構(gòu)的認(rèn)可。
除此之外，江波龍和皇虎測試科技（KingTiger Technology，以下簡稱“KTI”）開展了多次內(nèi)存技術(shù)交流活動(dòng)，并簽署了戰(zhàn)略性測試框架協(xié)議，未來將攜手完善內(nèi)存測試技術(shù)，聯(lián)合制定內(nèi)存測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
內(nèi)存測試設(shè)備國際知名品牌KingTiger Technology，專注內(nèi)存測試領(lǐng)域三十余年，擁有全套核心專利技術(shù)，以“邏輯功能測試與系統(tǒng)應(yīng)用測試并重，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與設(shè)計(jì)規(guī)范雙重把關(guān)”為理念。
其在中國航天集團(tuán)的支持下，建立了航天級DRAM測試裝備研發(fā)中心及測試服務(wù)中心，主要致力于內(nèi)存器件測試認(rèn)證和失效模式分析，以及量產(chǎn)內(nèi)存品質(zhì)篩選服務(wù)，并與各大廠商建立聯(lián)合機(jī)制，被視為內(nèi)存測試的權(quán)威機(jī)構(gòu)。
Specification |
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System |
KT-4MG+ |
Testing Speed |
3.2GHz |
Testing Scan Rate |
Full cell cover |
ATE Function Test |
YES |
Application Test |
YES |
Parameter Testing |
I/O Timing/Voltage/IDD (DC/AC) |
Testing Function |
Device Profiling |
KTI測試系統(tǒng)特點(diǎn)
近日，江波龍向KTI提供了FORESEE DDR4 UDIMM樣品，不僅通過了KTI的專項(xiàng)測試認(rèn)證，還被評為“優(yōu)質(zhì)品”。
KTI產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證證書
下面為大家一一展示江波龍內(nèi)存產(chǎn)品KTI測試認(rèn)證的詳細(xì)情況：
檢測項(xiàng)目 |
認(rèn)證測試結(jié)果 |
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核心參數(shù)Profiling |
特性符合JEDEC標(biāo)準(zhǔn) |
特性符合原廠設(shè)計(jì)規(guī)范 |
Idd 實(shí)時(shí)功耗測量 |
與原廠特性指標(biāo)吻合 |
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I/O信號質(zhì)量評價(jià) |
DRAM有效訪問窗口的寬度及信號質(zhì)量均表現(xiàn)優(yōu)秀 |
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ATE功能測試 |
常規(guī)參數(shù)測試PASS |
加嚴(yán)條件測試PASS |
Application應(yīng)用測試 |
常規(guī)參數(shù)測試PASS |
加嚴(yán)條件測試PASS |
高溫老化測試 |
常規(guī)參數(shù)測試PASS |
加嚴(yán)條件測試PASS |
結(jié)論 |
特性優(yōu)于JEDEC標(biāo)準(zhǔn)，顆粒一致性強(qiáng)，能抵受極端環(huán)境考驗(yàn) KTI認(rèn)證評為優(yōu)等品 |
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測試項(xiàng)目及測試結(jié)果
江波龍DDR4內(nèi)存已通過KTI專項(xiàng)測試認(rèn)證
綜上可知，江波龍這款內(nèi)存產(chǎn)品在KTI測試上的每一個(gè)項(xiàng)目，都表現(xiàn)得十分優(yōu)越。
而這款FORESEE DDR4 UDIMM作為江波龍內(nèi)存產(chǎn)品線的標(biāo)準(zhǔn)型號，搭載了三星Original等級的DRAM顆粒，采用了高端PCB工藝材質(zhì)（30u金手指鍍金工藝），由國際一線企業(yè)生產(chǎn)制造，是江波龍為行業(yè)用戶潛心打造的高品質(zhì)內(nèi)存。
Test Item |
Authentication Test Results |
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Core parameter profiling |
Features comply with JEDEC standards |
Features comply with OEM design specifications |
Idd real-time power consumption measurement |
Consistent with OEM feature index |
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I/O signal quality evaluation |
DRAM valid access window width and signal quality are excellent |
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ATE functional test |
General parameter test PASS |
Test under more stringent conditions PASS |
Application test |
General parameter test PASS |
Test under more stringent conditions PASS |
High temperature aging test |
General parameter test PASS |
Test under more stringent conditions PASS |
Conclusion |
Features are above JEDEC standards, strong consistency of particles, capable of withstanding extreme environments. Rated by KTI as an excellent product. |
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FORESEE DDR4 UDIMM 參數(shù)
在內(nèi)外部測試系統(tǒng)的加持下，江波龍將繼續(xù)秉承修筑質(zhì)量長城的理念，致力于國內(nèi)存儲生態(tài)良性建設(shè)。
未來，江波龍將會有更多規(guī)格的內(nèi)存產(chǎn)品加入KTI測試認(rèn)證隊(duì)伍，為客戶提供更多高品質(zhì)的產(chǎn)品選型方案，敬請期待！
