新竹2022年8月1日 /美通社/ -- MPI Corporation的先進半導體測試部門是半導體測試解決方案的行業(yè)領軍者及創(chuàng)新先鋒，該部門啟動了帶有WaferWallet®MAX的TS3500-SE自動晶圓探針測試系統(tǒng)向一個先進WLR（晶圓級可靠性）測試流程中的整合。WaferWallet®MAX是一款多用途盒式FOUP自動化200 mm和300 mm處理解決方案。
MPI Corporation為200mm和300mm WLR流程安裝其WaferWallet®MAX系統(tǒng)。MPI Corporation的先進半導體測試部門是半導體測試解決方案的行業(yè)領軍者及創(chuàng)新先鋒，該部門啟動了帶有WaferWallet®MAX的TS3500-SE自動晶圓探針測試系統(tǒng)向一個先進WLR（晶圓級可靠性）測試流程中的整合。WaferWallet®MAX是一款多用途盒式FOUP自動化200 mm和300 mm處理解決方案。
WaferWallet®MAX在不影響測量精度和能力的情況下，將整個測試時間增加了400%以上，從而提供了一種自動化解決方案。它通過縮短溫度均熱時間（整體測試時間的一部分），進一步提高了測試效率和生產(chǎn)力，同時實現(xiàn)了熱/冷晶圓交換。這是一種獨特的能力，可在卡盤保持任何測試溫度的情況下裝卸晶圓。
MPI成功地與imec合作，將其WaferWallet®MAX解決方案整合到了imec的先進可靠性穩(wěn)健性和測試(AR²T)部門，利用他們的200mm和300mm WLR資格認定活動來支持其Logic、Insite和Memory研發(fā)項目。
先進半導體測試部門總經(jīng)理Stojan Kanev表示：“大幅提高吞吐量并獲得更多的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，為我們的客戶實現(xiàn)了更快的上市時間。此外，在不增加額外成本的情況下，WaferWallet®MAX 300MM具有無可比肩的靈活性和現(xiàn)場升級能力，是MPI自動化TS3500系列晶圓測試系統(tǒng)的自然延伸，提供了一個經(jīng)濟高效的自動化解決方案，用于提高測試單元效率和降低整體測試成本?！?/p>
WaferWallet®MAX通過MPI的SENTIO®多點觸控探針控制軟件套件，無縫集成了自動盒式掃描、晶圓預對準、頂部和底部ID讀取。在直觀操作和以客戶為中心的方法上，SENTIO®仍然是無可爭議的市場領導者，同時提供獨特的免費升級路徑和公共域可編程工具。
