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桃園2018年3月5日電 /美通社/ -- 致茂電子為量測(cè)&智動(dòng)化Turnkey解決方案領(lǐng)導(dǎo)廠商，將于3月上海SEMICON China展出最新的半導(dǎo)體測(cè)試解決方案，搶攻IoT及智慧汽車電子晶片市場(chǎng)。
Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測(cè)試系統(tǒng)，可提供高達(dá)2048個(gè)I/O通道且數(shù)位通道速率(data rate)較高可達(dá)1Gbps的資料速率(data rate)、較高512個(gè)平行測(cè)試待測(cè)物的能力及512MW測(cè)試資料記憶體深度，以提供較低的測(cè)試成本且滿足復(fù)雜SoC的測(cè)試應(yīng)用需求。應(yīng)用范圍包含微控制器(MCU)、數(shù)位音訊、數(shù)位電視、機(jī)頂盒、數(shù)位信號(hào)處理器(DSP)、網(wǎng)路處理器(Network Processor)、現(xiàn)場(chǎng)可程式邏輯門陣列(FPGA)及消費(fèi)性電子IC應(yīng)用市場(chǎng)等測(cè)試方案。
HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和訊號(hào)解決方案，為Chroma 3680的選購(gòu)模組，擁有可同時(shí)輸出的8個(gè)差動(dòng)源模組(AWG)和同時(shí)接收的8個(gè)差動(dòng)測(cè)量模組(DGT)，且在每一個(gè)差動(dòng)源模組(AWG)上能提供高達(dá)400Msps的取樣頻率和在每一個(gè)差動(dòng)測(cè)量模組(DGT)上能提供高達(dá)250Msps的取樣頻率，具有高規(guī)格、低成本和多功能等優(yōu)勢(shì)，適用于標(biāo)準(zhǔn)的基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及DTV等廣泛的混合訊號(hào)測(cè)試應(yīng)用。
搭配于3680上所開(kāi)發(fā)的CRISPro軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面(GUI)或程式語(yǔ)言做測(cè)試程式的開(kāi)發(fā)，加上支援可同時(shí)測(cè)試(Concurrent Testing)的功能，以降低測(cè)試程式的時(shí)間，加快產(chǎn)品的量產(chǎn)速度。
Chroma 33010 PXIe 數(shù)位 IO Card：為PXIe 架構(gòu)，且具備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATE)功能，Chroma除提供傳統(tǒng)之ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(Chroma 3380D：256 CHs / 3380P：512 CHs / 3380：1280 CHs ) 外，亦提供符合未來(lái)PXI 測(cè)試方案發(fā)展應(yīng)用之趨勢(shì)及需求，以因應(yīng)未來(lái)更小IC通道及愈趨復(fù)雜功能之趨勢(shì)，尤其在 IoT 及車用感測(cè)IC測(cè)試上，PXI/PXIe架構(gòu)在半導(dǎo)體測(cè)試無(wú)論在應(yīng)用多變和彈性上都有一定優(yōu)勢(shì)。應(yīng)用范圍包含微控制器、微機(jī)電(MEMS)感測(cè)器、射頻IC(RF IC) 及電源IC (PMIC) 等測(cè)試方案。
Chroma 3200L-6光纖DC/RF測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用于光學(xué)模組(OSA, box package)的DC與RF檢測(cè)，具備光纖自動(dòng)清潔與檢測(cè)、光纖視覺(jué)定位與自動(dòng)插拔、探針視覺(jué)定位與接觸控制，探針重復(fù)精準(zhǔn)度可達(dá)正負(fù)40um，支援工程實(shí)驗(yàn)單站式與量產(chǎn)整線式兩種模式，提高導(dǎo)入彈性，大幅降低人力與測(cè)試損耗成本。
Chroma半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備整合MP5806 射頻(RF) ATE測(cè)試專用機(jī)，涵蓋6GHz范圍內(nèi)的無(wú)線測(cè)試規(guī)范，擁有4/8 RF Port及120MHz 頻寬。應(yīng)用范圍包含WiFi/BT/GNSS/NB-IoT/LoRa等無(wú)線通訊與IoT應(yīng)用及RF元件測(cè)試( PA/LNA/Converter等)，提供RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)測(cè)試解決方案。
2018 SEMICON China (3月14-16日)，致茂電子將于上海新國(guó)際博覽中心（SNIEC）（攤位號(hào): 3165）展出嶄新的半導(dǎo)體測(cè)試解決方案，致茂電子誠(chéng)摯的邀請(qǐng)您一同體驗(yàn)量測(cè)新趨勢(shì)，期待在此年度盛會(huì)中與您見(jiàn)面。
