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上海2017年3月13日電 /美通社/ -- 致茂電子為精密電子量測儀器、自動化測試系統(tǒng)、智慧制造系統(tǒng)與全方位 Turnkey 測試及自動化解決方案領(lǐng)導(dǎo)廠商，將于3月 SEMICON China 推出最新半導(dǎo)體測試解決方案，以因應(yīng) IoT 晶片市場的蓬勃發(fā)展。
Chroma 3680 全方位高精度/高效能 SoC 測試系統(tǒng)，擁有較高可達 1Gbps 的資料速率 (data rate)、平行測試更多待測物的能力及符合數(shù)位及類比 IC 的測試應(yīng)用需求。應(yīng)用范圍包含微控制器 (MCU)、數(shù)位音訊 (Digital Audio)、數(shù)位電視 (Digital TV，DTV)、機頂盒 (Set-Top Box)、數(shù)位信號處理器 (DSP)、網(wǎng)路處理器 (Network Processor)、現(xiàn)場可程式邏輯門陣列 (Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA) 及消費性電子 IC 應(yīng)用市場等測試方案。
Chroma 33010 PXIe Digital IO Card，Chroma 除提供傳統(tǒng)之測試系統(tǒng) Chroma 3380D 256 通道與 Chroma 3380P 512 通道外，也在今年正式提供自動測試系統(tǒng) (ATE) 功能 PXIe 架構(gòu)之 DIO- Model 33010，符合 PXI 測試方案發(fā)展應(yīng)用之趨勢及需求，以因應(yīng)未來更小 IC 通道及愈趨復(fù)雜功能之趨勢，尤其在 IoT 及汽車電子 IC 測試上，PXI/PXIe 架構(gòu)在半導(dǎo)體測試無論在應(yīng)用多變和彈性上都有一定優(yōu)勢。應(yīng)用范圍包含微控制器 (MCU)、微機電 (MEMS) 、射頻 IC(RF IC) 及電源 IC (PMIC) 等測試方案。
Chroma 3260C 三溫 IC 測試分類機具備優(yōu)異的溫度性能表現(xiàn)，溫度范圍從-40攝氏度~125攝氏度，利用 Nitro TEC 的技術(shù)，做到快速 DTC 的功能；并可供多組 Module Board 平行測試，1至6個測試座并可符合多種封裝類型 (QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及 CSP)。Chroma 3260C 可快速更換待測產(chǎn)品，大幅縮短停機時間，提高使用效率及產(chǎn)能。應(yīng)用范圍為車聯(lián)網(wǎng)及云端相關(guān)概念產(chǎn)業(yè) IC 元件。
Chroma 3111 迷你桌上型單站測試分類機適用于工程實驗階段系統(tǒng)功能檢測，同時具備終端電性測試能力，支援各種不同類型的封裝晶片，晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。Chroma 3111 具備遠端網(wǎng)路控制功能，透過軟體設(shè)定 JEDEC 料盤的分配及工程測試，在 60cm2 的空間發(fā)揮較大的效用以節(jié)省時間和成本。
Chroma 半導(dǎo)體測試設(shè)備整合 MP5800 射頻 (RF) ATE 測試專用機，涵蓋 6GHz 測試范圍，提供 4/8 RF Port 及 120MHz 頻寬。應(yīng)用范圍包含 WiFi/BT/GPS 等 IoT 應(yīng)用及 RF 元件測試 ( PA/LNA/Converter 等)，達到 RF/Digital 全方位 ATE(CP/FT/SLT) 測試解決方案。
Chroma 半導(dǎo)體測試解決方案亦提供豐富的軟體套件以符合不同測試應(yīng)用。
2017 SEMICON China （3月14-16日），致茂電子將于上海新國際博覽中心 (SNIEC) (攤位號: 3635) 展出最新的半導(dǎo)體測試解決方案，我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢，期待在此年度盛會中與您見面。更多產(chǎn)品相關(guān)資訊請參閱致茂官網(wǎng) www.chromaate.com
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